鏡向光澤度板主要用于鏡向光澤度計測量過程中的標定，按照工作性質的不同可以分為標準板和工作板兩級，通常和光澤度計配套使用。許多的用戶對光澤度計鏡向光澤度板的檢定不是很了解，本文為大家作了介紹，感興趣的朋友可以了解一下！
鏡向光澤度板（以下簡稱光澤度板）分為標準板和工作板兩級，工作光澤度板通常和工作光澤度計配套使用，用于測量過程中定標。光澤度板按光澤度值又分為高、中、低三種。高光澤度板由黑色光學玻璃或其他材料制成。中光澤度板和低光澤度板由涂釉陶瓷或黑色光學玻璃磨砂制成。
光澤度板的計量性能應符合下表的規(guī)定。
1.高光澤度板
①平面度
高光澤度板的長度小于等于80mm時，其工作面的干涉光圈應不大于10個光圈，局部光圈不大于2個光圈；長度大于80mm時，其干涉光圈應不大于15個光圈，局部光圈不大于3個光圈。
②光譜透射比
高光澤度板在（400～760）nm范圍內的光譜透射比應不大于0.03。
2.陶瓷光澤度板的反射中性誤差
陶瓷光澤度板在（400~760）nm范圍內的光譜反射中性誤差不應超過士12%。按下列公式計算。
式中：
R——光譜反射中性誤差；
ρ560——波長為560nm的反射率；
ρλ——波長為λ的反射率
1.外觀要求
①光澤度板應有編號，并配有包裝保護盒。保護盒上應有制造廠名或廠標。
②光澤度板的工作表面不應有影響光澤度測量的缺陷，側面應有測量定位標記。
2.高、中、低光澤度值的劃分
光澤度板按照其60°光澤度值劃分為：
高光澤度板：Gs（60°）>70.0GU；
中光澤度板：30.0GU≤Gs（60°）≤70.0GU；
低光澤度板：Gs（60°）<30.0GU。
1.檢定條件
1）檢定設備
①標準光澤度板檢定設備
檢定標準光澤度板應使用光澤度基準裝置；檢定高光澤度板的光譜透射比和陶瓷光澤度板的光譜反射中性誤差應使用分光光度計（光譜范圍：380nm～780nm），分光光度計計量性能要求達到二級以上。
檢定高光澤度板平面度應使用二級平面平晶。
②工作光澤度板檢定設備
檢定工作光澤度板應使用標準光澤度計。
2）檢定環(huán)境條件
無干擾及振動源的清潔實驗室。
室溫：（20士5）℃，相對濕度：<85%。
2.檢定項目
光澤度板的檢定項目見下表。
3.檢定方法
1）標準光澤度板
①外觀檢測
通過目視觀察，按光澤板通用技術中的外觀要求進行檢查。
使用吹球清潔表面。如表面有污痕，用清潔液及擦鏡紙輕輕擦去。按測量要求選擇基準光澤度計的測量角度。按操作技術規(guī)范使基準光澤度計處于穩(wěn)定的工作狀態(tài)，并調好零位。
②光澤度值
零位調好后，按被檢標準板的分類取相應的基準板，將其緊貼基準光澤度計的測量基面，并對準中心位置。按基準板的光澤度值設定基準光澤度計的示值。
換上被檢標準板，對準中心位置，并緊貼于基準光澤度計的測量基面，然后記錄其讀數(shù)，即得到該板的光澤度值。
在每次檢定結束時，應對基準板的光澤度值進行復核，并檢驗基準光澤度計的零位。被檢標準板數(shù)量較多時，應在檢定過程中復核此兩個項目。
對被檢標準板應實行兩次檢定，光澤度值取兩次平均值為被檢標準板的標定值。被檢標準板中心的光澤度值應符合光澤度板計量性能和高、中、低光澤度值的劃分的規(guī)定。
光澤度板檢定的正常位置，應按長度方向平行于測量平面，否則應在證書上另加注說明。
③高光澤度板平面度
將平面平晶放在高光澤度板測試面上，觀察其干涉條紋，按平面度要求進行檢查。
④高光澤度板光譜透射比
用分光光度計測量高光澤度板的光譜透射比，應符合光澤度板光譜透射比的要求。
⑤陶瓷光澤度板光譜反射中性誤差
對首次生產的陶瓷光澤度板，用分光光度計測量其光譜反射率ρλ，取ρλ與ρ560（波長為560nm的反射率）的最大差為光譜反射中性誤差。它應符合光澤度板計量性能要求中平面度的要求。
⑥光澤度值的年變化量
按相隔1年的兩次送檢的光澤度板之光澤度值計算變化量，應符合表2的要求。
2）工作光澤度板
測量方法同標準光澤度板一致，檢定設備使用標準光澤度計和標準光澤度板。
4.檢定結果處理
首次檢定的光澤度板要求全部指標均合格。后續(xù)檢定和使用中檢驗的光澤度板，其年變化量指標必須合格。
經檢定合格的光澤度板發(fā)給檢定證書；不合格的光光澤度板發(fā)給檢定結果通知書，并注明不合格項目。
檢定證書要注明被測樣品所對應的國家標準或ISO標準的代號，否則應特別注明測量角和張角。
5.檢定周期
光澤度板的檢定周期一般不超過一年。
